技术参数及指标：

　　1 X 射线源：最大输出功率18KW

　　2 陶瓷X光管：Cu靶，2.2KW，更换X光管后无需重新校准

　　3 测角仪角度重现性：+0.0001度

　　4 样品台：标准粉末样品台，样品台水平放置，适合测量粉末样品、松散固体、块状、片状等样品

　　5 基本光学系统：光学系统为模块化设计，具有可更换和可扩展性，包括索拉狭缝、发散狭缝、防散射狭缝、自动接收狭缝等

　　6 探测器

　　6.1 半导体阵列探测器，微型探测器的数目大于100个

　　6.1.1 动态范围：4,000,000cps或以上

　　6.1.2 线性范围：1,000,000cps或以上

　　6.1.3 最大背景：＜0.2cps

　　6.1.4 效率（对Cu靶）：94%

　　6.2 正比探测器

　　6.2.1 动态范围：1,000,000cps或以上

　　6.2.2 线性范围：1,000,000cps或以上

　　6.2.3 最大背景：＜0.4cps

　　6.2.4 效率（对Cu靶）：94%

　　主要附件：

　　1 薄膜附件：配置平行光转化镜（hybrid） ，平行光准直器（collimator）。可对薄膜进行掠入射研究，进行物相鉴定

　　2 小角散射附件：可以完成纳米材料的粒度分布测定

　　用途及功能：

　　X射线衍射分析可应用到物理、化学、地质矿产、生命科学、材料科学以及各种工程技术领域之内，是一种重要的实验手段和分析方法。可进行粉末样品、块状、片状等固体样品的物相分析（定性和定量），微量相分析；可对薄膜进行掠入射研究，进行物相鉴定；可完成纳米材料的粒度分布测定等